J0310204 放射光ラミノグラフィと画像相関法によるデバイス実装材料の3次元内部ひずみ分布測定([J031-02]電子情報機器・半導体デバイス・電子部品の冷却技術(2),材料力学部門)
mag（2014）
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synchrotron radiation,imaging,power modules
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