26pKA-10 収差補正HRTEMを用いた3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の解析(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))篤志 石田,順 山崎,伸 稲元, 優貴 野村,賢輔 秋山,康男 平林,信夫 田中mag（2013）引用 23|浏览5暂无评分AI 理解论文溯源树样例生成溯源树，研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要
