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Ultra-low noise strained Si/SiGe n- and Ge/SiGe p-MODFETs

M Enciso,Armando Fox,F Aniel,P Crozat,L Giguerre,R Adde,Marco Zeuner,G Hock

31st European Solid-State Device Research Conference（2001）

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关键词
scattering parameters,noise measurement,noise figure
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