Poly-SiゲートHigh-k MIS構造における非飽和型C-V特性の起源(ゲート絶縁膜, 容量膜, 機能膜及びメモリ技術)直樹 安田,俊秀 生田目,秀喜 佐竹,明 鳥海siam international conference on data mining（2005）引用 23|浏览5暂无评分AI 理解论文溯源树样例生成溯源树，研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要
