基于激光跟踪仪的两维平面扫描系统综合参数的测量方法研究

Metrology & Measurement Technology（2018）

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摘要

两维平面扫描系统是一种常用于各类相控阵体制天线内场调试的机械装置,具有体积庞大、测试参数众多、不易测量等特点.本文从两维平面扫描系统的主要技术指标入手,提供了一种使用激光跟踪仪测量其各项参数的方法,并对测量过程中影响结果的不确定度分量进行分析.

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