KDP晶体全外围夹持方案理论分析

Zhao XIONG,Kai JIA,Bin ZHANG,Kai-hong CUI,Pan XU,Xiao-dong YUAN

Guangdian Gongcheng/Opto-Electronic Engineering（2011）

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摘要

在超大超薄KDP晶体紧密装校过程中,由于夹持力与重力作用,导致晶体面形发生形变.本文提出了KDP晶体全外围夹持方案,并对KDP晶体垂直状态下的各种受力模型进行应变分析.理论分析结果表明:对称支撑与均匀施力对晶体面形影响较大；当满足对称支撑和均匀施力的情况下,上侧面四个胶钉施力小于25N时,能够满足在线物理实验要求.

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关键词

Complete periphery clamp,ICF,KDP crystals,Strain analysis

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