用于测定U-238活度的γ谱仪效率刻度方法中一个值得注意的误区
He Jishu/Nuclear Techniques（2006）
摘要
本文详实地揭示了在高分辨Ge γ谱仪效率刻度方法及其样品分析应用中一个长期以来未为谱学工作者发觉和认识的误区.通过实验及物理数学推导方法,阐述了当选用92.6 keV特征γ射线分析天然样品中U-238活度时,是外源性特征X射线干扰的存在及影响其变化的多因素不确定性导致了准确测定天然样品中U-238活度的困难,并导致分析结果中含有难于预测的系统误差,故而文中建议摒弃该方法.文中注意到本文报告的误区在既往某些工作中遗留的影响,建议运用相关数据时应十分谨慎,如果可能,应设法重新测定.
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关键词
γ Spectrometer,238U,Disturbing radiation,Efficiency calibration,Systemic error,X-ray
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