一种检测电路中关键路径的新算法

Harbin Gongcheng Daxue Xuebao/Journal of Harbin Engineering University（2005）

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摘要

伪路径的存在严重影响了对大规模集成电路的定时分析.为了克服该问题,文中给出一种基于SAT和GRASP求解算法的识别伪路径的方法,在此基础上引入动态期望值的手段得到一种检测组合电路中的关键路径的快速方法.实验证明,该方法可以在微机环境下对一些大规模的基准电路实现对关键路径的快速检测.对规模为几千个逻辑门的基准电路,该算法可以在半分钟内得到电路的关键路径,而且可以将关键路径时延减小,为确定精确的电路时延提供了依据.

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关键词

Critical path,Path sensitization,Timing analysis

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