检索
AI 对话
AI 辅写
analysis
趋势分析
编组
数据平台
more
更多
排名必读论文期刊顶会热点AI 简史溯源树小脉星探人才迁徙塔尖人才国防情报追踪开源工具智慧手语
VIPCreated with Sketch.

开路缺陷的软故障关键面积研究

陈太峰,郝跃,马佩军, 张进城,赵天绪,刘宁

Pan Tao Ti Hsueh Pao/Chinese Journal of Semiconductors（2002）

引用 0|浏览4
暂无评分
摘要
从软故障的产生机制出发,研究了软故障的作用模式.为了计算软
更多
查看译文
关键词
Critical area,Hard defect,Interconnect,Soft fault
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要