应用透表法透过Si_3N_4+SiO_2钝化层内窥透视成品IC的研究胡问国,肖玲,林一平,梁竹关,李亚文,李萍,兰得春,王建,周开邻,Rau E IJournal of Chinese Electron Microscopy Society(2006)引用 0|浏览14暂无评分AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要