基于分解等价的时序电路测试生成算法

针对集成电路的规模和复杂程度不断增加而相应的测试却越来越困难且费时的问题,提出了一种基于分解等价的时序电路测试生成算法。此算法通过引入分解等价以避免进入已搜索的测试码解空间,缩小了测试码搜索空间,大大提高了测试生成效率。在ISCAS’89国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性。