扫描式激光测径技术的算法新探

为了提高激光扫描测径技术的测量精度和测量稳定性,在研究了传统的激光扫描法测径的原理和算法后,提出了一种激光扫描测径的新算法。新算法充分利用了扫描光路的几何关系和数值计算技术。在产品生产过程中,新算法的应用提高了测量精度,降低了产品成本。