纳米异向介质的缺陷模
Chinese Journal of Electron Devices（2008）
Abstract
在实际 THz 负折射指数物质应用中,形状的改变和现有的光刻技术的精度,对负折射特性造成什么影响研究在实际工程设计中具有重要意义.下面利用有限积分法模拟形状变化和光刻精度产生的缺陷对负折射谐振频率和通带的影响.得出由于谐振环之间的耦合,SRR 对称破缺影响谐振频率和通带.光刻技术的精度满足 THz 负折射指数物质的要求.
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Key words
defect mode,pass band,nano negative refractive index metamaterial,optical printing precision
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