长余辉材料涂层中锶的测定

本文以YJG-Ⅱ激光微区光谱分析仪结合CCD光栅光谱仪组成微区分析系统,在减压氩气环境下,以长余辉材料涂层为分析样品,研究了激光微等离子体光谱分析方法用于涂层分析的准确度。实验中以SrⅡ421．552nm为分析线,采用三标准试样法,由计算机拟合LogI～LogC工作曲线,对锶进行了测定。结果表明：分析谱线相对强度RSD为3．08%,定量分析RSD为4．62%,分析结果平均值为21．91%。将该值与正常材料中锶的含量值相比较,发现经自然环境作用后不发光的长余辉材料涂层中锶的含量明显减小。