一种基于最小均方差算法的散斑图像微位移测量系统
Mechanical Management and Development(2012)
摘要
为了满足微位移量的实时、非接触测量的需要,研制了基于散斑图像的一种嵌入式微位移测量系统,它是基于最小均方差法和DSP处理器(TMS320DM642)设计的。重点阐述软件系统和实验系统的设计与实现方法,并在不同运动速度和表面粗糙度的条件下,对其测量系统进行实验和数据分析。实验结果表明,该测量系统是可行有效的。
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关键词
micro-displacement measurement,speckle pattern,embedded system
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![](https://originalfileserver.aminer.cn/sys/aminer/pubs/mrt_preview.jpeg)
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