自由衰减曲线的全谱拟合及其在高精度内耗测量中的应用

基于Bevington方法对自由衰减曲线进行全谱拟合,并应用于多功能内耗仪自由衰减模式下的高精度内耗测量中。内耗稳定性研究表明:采用该方法测量精度可达±7×10-6,比振幅法提高近一个量级。特别是在高阻尼情况下,全谱拟合方法得到的内耗测量值精确度相对较高。