用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究

干涉式综合孔径被动辐射计成像技术广泛应用于被动式毫米波成像。就综合孔径成像的基本原理进行了介绍,但应用于近场成像时综合孔径被动成像算法失效。主要分析了综合孔径成像的远场算法,针对远场算法中亮温函数与可适度函数之间存在的傅里叶变换对的关系,通过对亮温函数进行校正,使其与可视度函数仍存在傅里叶变换对的关系,满足近场计算条件。同时,就其应用于电磁检测的具体技术细节及分辨率进行了分析讨论。根据近场校正算法进行仿真,并对成像结果进行了分析。