Equivalent Noise Generators In Jg Fet
SOLID-STATE ELECTRONICS(1974)
Abstract
Van der Ziel a montré théoriquement qu'en hautes fréquences le bruit de grille d'un transistor à effet de champ croît rapidement avec la fréquence. Cet effet est attribué au bruit thermique du canal et est causé par le couplage capacitif entre le canal et la grille. On montre expérimentalement que cet effet est négligeable jusqu'à 3 MHz pour des transistors à effet de champ de type n (2 N 3966) à hautes frequences de coupure (f ∼ 100 MHz). On en deduit ensuite la variation experimentale du générateur de courant de bruit à l'entrée du transistor supposé sans bruit.
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equivalent noise generators
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