Source X par agrégats : contrôle et optimisation des paramètres gouvernant l'interaction laser de puissance–agrégats de gaz rare

Les experiences que nous avons realisees sur le Laser Ultra Court Accordable du CEA Saclay permettent d'observer l'emission de photons X dans la gamme 1-5 keV lors de l'irradiation d'agregats de gaz rare (Ar, Kr et Xe comprenant entre 10 3 et 10 6 atomes par agregat) avec un laser femtoseconde de puissance (I pic jusqu'a 10 17 W/cm 2 ). En plus de la distribution des etats de charge des ions responsables de l'emission X, la technique de spectroscopie X que nous utilisons permet de mesurer les taux absolus de photons emis dans 4π par impulsion laser en fonction des parametres gouvernant l'interaction dans des conditions controlees. Nous avons determine la sensibilite des parametres physiques regissant la production du rayonnement X pendant l'interaction, ce qui permet d'acceder a l'optimisation de cette source. Cet article est plus particulierement dedie aux resultas relatifs a l'evolution du taux d'X avec l'eclairement laser, d'une part, et avec la duree de l'impulsion laser, d'autre part.