关于金属磁记忆检测中背景磁场抑制的讨论
Nondestructive Testing(2007)
Abstract
通过具体试验,对当前金属磁记忆检测中普遍采用的利用通道补偿的背景磁场抑制方法进行了验证。结果发现通道补偿法并不能真正去除背景磁场对金属磁记忆检测的影响;同时,进一步对背景磁场对金属磁记忆检测的影响进行了分析,指出了相关的影响因素,并提出利用有限元分析消除背景磁场对金属磁记忆检测的影响的方法。
MoreTranslated text
Key words
Metal magnetic memory testing,Background magnetic field,Channel-compensated method
AI Read Science
Must-Reading Tree
Example
![](https://originalfileserver.aminer.cn/sys/aminer/pubs/mrt_preview.jpeg)
Generate MRT to find the research sequence of this paper
Chat Paper
Summary is being generated by the instructions you defined