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In-Device Battery Failure Analysis
Guannan Qian,Guibin Zan,Jizhou Li,Dechao Meng, Tianxiao Sun, Vivek Thampy, Ayrton M Yanyachi,Xiaojing Huang,Hanfei Yan,Yong S Chu,Sheraz Gul, Juanjuan Huang, Shelly D Kelly,Sang-Jun Lee, Jun-Sik Lee,Wenbing Yun,Peter Cloetens,Piero Pianetta,Kejie Zhao,Ofodike A Ezekoye,Yijin Liu
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla)no. 10 (2025): e2416915-e2416915
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