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VLSI Technology and Circuitspp.1-2, (2023)
Yun-Yan Chung,Wei-Sheng Yun,Bo-Jhih Chou,Chen-Feng Hsu, Shao-Ming Yu, G. Arutchelvan,Ming-Yang Li,Tsung-En Lee,Bo-Jiun Lin, Chen-Yi Li,Aslan Wei,D. Mahaveer Sathaiya,
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2023)
Nathaniel Safion,Hsin-Yuan Chiu,Tzu-Ang Chao,Sheng-Kai Su,Matthias Passlack, Kuang-Hsiang Chiu,Chien-Wei Chen,Chi-Chung Kei,Chen-Han Chou,Tsung-En Lee,Jer-Fu Wang,Chih-Sheng Chang,
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2023)
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canadano. Supplement_1 (2023): 288-290
VLSI Technology and Circuitspp.1-2, (2023)
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 12 (2023): 6680-6686
Nature Electronicsno. 12 (2023): 999-1008
Nature Materialsno. 5 (2023): 591-598
Shengman Li,Tzu-Ang Chao,Carlo Gilardi,Nathaniel Safron,Sheng-Kai Su,Gilad Zeevi, Andrew Denis Bechdolt,Matthias Passlack, Aaryan Oberoi,Qing Lin, Ziehen Zhang,Kesong Wang,
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2023)
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