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论文共 12 篇作者统计合作学者相似作者
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IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systemsno. 10 (2023): 3436-3449
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)pp.1-6, (2023)
2023 IEEE 32ND ASIAN TEST SYMPOSIUM, ATSpp.118-123, (2023)
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMSno. 6 (2023): 711-724
2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)pp.1-7, (2022)
2022 IEEE International Test Conference (ITC)pp.258-267, (2022)
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