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Analysis of Contact Noise Due to Elastic Recovery of Surface Asperities for Spherical Contact
Bora Lee, Kyungseob Kim,Taewan Kim
Inventionsno. 1 (2025): 17
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Thickness-Dependent Electrical and Optoelectrical Properties of SnSe2 Field-Effect Transistors
Han-Woong Choi,Dong Hyun Seo, Ji Won Heo,Sang-Il Kim,TaeWan Kim
Electronic Materials Letterspp.1-1, (2025)
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Deep Learning Integrated Bayesian Health Indicator for Cross-Machine Health Monitoring
Taewan Kim,Seungchul Lee
STRUCTURAL HEALTH MONITORING-AN INTERNATIONAL JOURNALno. 6 (2024): 3416-3429
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Large-Scale Analysis of Defects in Atomically Thin Semiconductors Using Hyperspectral Line Imaging
Seungjae Lim,Tae Wan Kim, Taejoon Park, Yoon Seong Heo, Seonguk Yang,Hosung Seo,Joonki Suh,Jae-Ung Lee
SMALLno. 42 (2024)
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