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Christian Schmidt, Yan Li,Bernice Zee, Rohin Agny, Rosaria Parente,Sebastian Brand,Michael Kögel,Frank Altmann
ASM International eBookspp.131-154, (2023)
International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2022: Tutorial Presentations from the 48th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2022)
CIPS 2022; 12th International Conference on Integrated Power Electronics Systemspp.1-7, (2022)
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International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2022: Conference Proceedings from the 48th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2022)
International Symposium for Testing and Failure AnalysisISTFA 2021: Tutorial Presentations from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2021)
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