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2016 6th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC)pp.1-6, (2016)
B. Wunderle,M. Springborn,D. May,C. -A. Manier,M. Abo Ras,R. Mrossko,H. Oppermann, T. Xhonneux,T. Caroff, W. Maurer,R. Mitova
Microelectronics Reliabilityno. 6 (2013): 1243-1252
NANOTECHNOLOGY 2012, VOL 2: ELECTRONICS, DEVICES, FABRICATION, MEMS, FLUIDICS AND COMPUTATIONALpp.439-442, (2012)
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TechConnect Briefsno. 2011 (2011): 149-154
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