检索
AI 对话
AI 辅写
analysis
趋势分析
编组
数据平台
more
更多
排名必读论文期刊顶会热点AI 简史溯源树小脉星探人才迁徙塔尖人才国防情报追踪开源工具智慧手语
VIPCreated with Sketch.
研究兴趣

论文共 84 篇作者统计合作学者相似作者

按年份排序按引用量排序主题筛选期刊级别筛选合作者筛选合作机构筛选
时间
引用量
主题
期刊级别
合作者
合作机构
The Improvement Study of UTS CIS Bevel Peeling Defect Based on the Application of SEM API
Xianghua Hu,Guangzhi He, Jingfeng Wang,Qiliang Ni
2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)pp.1-3, (2023)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
Tiny SADP Defect Detection and Reduction for 19nm NAND Flash Technology Semiconductor Manufacturing Engineering
QiuFeng Cao,Qiliang Ni, Jianye Song
2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)pp.1-3, (2022)
引用1浏览0EIWOS引用
1
0
Different Module's Process Affect to Poly Pattern Etch Stick Particle
Jiayi Fu,Qiliang Ni,Chao Han
2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)pp.1-3, (2022)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
Optimize The Cleaning Process of Tungsten Contact Cmp to Avoid Copper Wire Bridges and Improve Product Yield
Jinfeng Wang,Qiliang Ni,Xiaofang Gu,Guangzhi He, Zhe Wang, Mengyun Cao
2021 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)pp.1-4, (2021)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
Wafer Edge Crack Defect Investigation and Improvement in 19nm PSZ DEP Process
Junwei Han,Qiliang Ni,Xiaofang Gu, Jiaya Bo, Jian Li,Pengkai Xu
2021 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)pp.1-3, (2021)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
加载更多
作者统计
  • 合作者
  • 学生
  • 导师
暂无相似学者，你可以通过学者研究领域进行搜索筛选
数据免责声明
页面数据均来自互联网公开来源、合作出版商和通过AI技术自动分析结果，我们不对页面数据的有效性、准确性、正确性、可靠性、完整性和及时性做出任何承诺和保证。若有疑问，可以通过电子邮件方式联系我们：report@aminer.cn