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Metrology target design (MTD) solution for diagonally orientated DRAM layer
Myungjun Lee,Mark D. Smith,Michael E. Adel,Chia-Hung Chen, Chin-Chang Huang, Hao-Lun Huang, Hsueh-Jen Tsai, I-Lin Wang, Jen-Chou Huang, Jo-Lan Chin, Kuo-Yao Chou, Yuan-Ku Lan,
Proceedings of SPIE（2016）
引用2浏览0引用
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Method of removal of snow or ice coverage from solar collectors
Zvika Klier, Roy Efron,Michael Adel, Shimon Klier
mag（2014）
引用23浏览0引用
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