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IEEE Transactions on Device and Materials Reliabilityno. 99 (2024): 1-1
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 9 (2023): 4669-4673
ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALSno. 4 (2023): 2065-2072
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 12 (2022): 6789-6793
Yang-Hao Hung,Ting-Chang Chang,Yu-Fa Tu,I-Nien Lu,Yu-Zhe Zheng, Cheng-Ling Chiang,Jian-Jie Chen,Chuan-Wei Kuo,Li-Chuan Sun,Kuan-Ju Zhou
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