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Investigation of Thermal Resistance Extraction of GaN HEMTs Through DCT Measurements Techniques and TCAD-Based Physical Simulations
M. Bouslama,J. C. Jacquet, F. Gaillard, S. Piotrowicz,R. Sommet,J. C. Nallatamby, G. Gauthier
2024 19TH EUROPEAN MICROWAVE INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, EUMIC 2024pp.178-181, (2024)
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V-Band Power Amplifier MMIC on InAlN/GaN/SiC HEMTs Technology
M. Bouslama,S. Piotrowicz,N. Michel,L. Trinh-Xuan, J. Leroy, S. Aroulanda, S. Driad, L. Hamidouche,J. C. Jacquet, Q. Lesvesque,M. Oualli,C. Chang,P. Fellon,S. L. Delage
2023 18TH EUROPEAN MICROWAVE INTEGRATED CIRCUITS CONFERENCE, EUMICpp.165-168, (2023)
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HTRB Stress Effects on 0.15 m AlGaN/GaN HEMT Performance
P. Vigneshwara Raja,Jean-Christophe Nallatamby,Mohamed Bouslama,Jean Claude Jacquet,Raphael Sommet,Christophe Chang,Benoit Lambert
2022 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization (NEMO)pp.1-4, (2022)
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