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个人简介
His activities have included the research of the degradation phenomena and reliability assessment of SiO2, SiON, high-k, and ferroelectric films, planar and multiple-gate FETs, circuits, and characterization of Ge/III–V and MIM devices. He is currently serving on the IEEE T. Electron Dev. Editorial Board.
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Luca Panarella,Ben Kaczer,Quentin Smets,Stanislav Tyaginov, Pablo Saraza Canflanca,Andrea Vici,Devin Verreck,Tom Schram,Dennis Lin,Theresia Knobloch,Tibor Grasser, Cesar de la Rosa,
crossref(2024)
IEEE Transactions on Device and Materials Reliabilityno. 3 (2023): 346-354
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K. Kaczmarek,M. Garcia Bardon,Y. Xiang, N. Ronchi,L. -A. Ragnarsson, U. Celano,K. Banerjee,B. Kaczer,G. Groeseneken,J. Van Houdt
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 7 (2023): 3928-3934
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 12 (2023): 6512-6519
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.1-7, (2023)
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.1-9, (2023)
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L. Panarella,Ben Kaczer,Quentin Smets,Devin Verreck,Tom Schram,Daire Cott,Dennis Lin,Stanislav Tyaginov, I. Asselberghs,Cesar J. Lockhart de la Rosa,Gouri Sankar Kar, Valeri Afanas'ev
IRPSpp.1-6, (2023)
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IEEE ACCESS (2023): 127725-127736
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