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Laurens C. J. M. Peters, Roy G. F. A. Verbeek, Gerard J. A. J. F. Haas,Gerwin H. Gelinck, Thijs Schrama,Arno W. F. Volker, Egon J. W. Merks, Paul L. M. J. van Neer
IEEE International Symposium on Medical Measurements and Applicationspp.1-4, (2024)
Sensorsno. 12 (2024): 3750
Paul L. M. J. van Neer,Laurens C. J. M. Peters, Roy G. F. A. Verbeek,Bart Peeters,Gerard de Haas, Lars Horchens,Laurent Fillinger, Thijs Schrama, Egon J. W. Merks-Swolfs,Kaj Gijsbertse,Anne E. C. M. Saris,Moein Mozaffarzadeh,
e-Journal of Nondestructive Testingno. 8 (2023)
Research and Review Journal of Nondestructive Testingno. 1 (2023)
APPLIED SCIENCES-BASELno. 2 (2023): 1121-1121
A. W. F. Volker,J. W. Vrolijk, E. J. W. Merks-Swolfs, D. W. van der Burg, M. S. van der Heiden, Q. E. V. N. Martina
Journal of Nondestructive Evaluation, Diagnostics and Prognostics of Engineering Systemsno. 4 (2023)
Frenk Van Den Berg, Maxim Aarnts,Haibing Yang, F Fintelman, Bernard Ennis, L Gillgren,Denis Jorge-Badiola,Ane Martinez-de-Guerenu,Claire Davis, Graeme West,Lei Zhou, Mohsen Jolfaei,
Research and Review Journal of Nondestructive Testingno. 1 (2023)
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