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Employing X-Ray Spectromicroscopy for the Understanding of Anisotropy in Organic Thin Film Growth
Tim Hawly,Andreas Späth,Manuel Johnson,Fabian Streller,Benjamin Watts,Jörg Raabe,Rainer H. Fink
PROCEEDINGS OF THE 15TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY – XRM2022 AIP Conference Proceedings (2023)
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Progress in Soft X-Ray Nanolithography by Advanced Tools of Inventive Problem Solving
Andreas Späth
PROCEEDINGS OF THE 15TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY – XRM2022 AIP Conference Proceedings (2023)
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