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High Temperature Annealing Induced Recovery of Hot-Carrier Degradation in High Performance NPN SiGe HBTs
Dimitris P. Ioannou,Adam W. DiVergilio
BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposiumpp.270-273, (2024)
引用0浏览0EIWOS引用
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Physics of Hot Carrier Degradation Under Off-State Mode Operation in High Performance NPN SiGe HBTs
Dimitris P. Ioannou,Uppili S. Raghunathan,Dave Brochu,Adam Divergilio,Vibhor Jain,John J. Pekarik
2021 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS)pp.1-4, (2021)
引用1浏览0EIWOS引用
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Application of the Kull Epilayer Formulation to a Compact Model for Junction Diodes
Adam W. DiVergilio
BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposiumpp.1-4, (2019)
引用2浏览0EIWOS引用
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#Papers: 8

#Citation: 144

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