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Al2o3-Sio2 Stack With Enhanced Reliability
M. Lisiansky,A. Fenigstein, A. Heiman,Y. Raskin,Y. Roizin, L. Bartholomew,J. Owyang,A. Gladkikh,R. Brener,I. Geppert,E. Lyakin,B. Meyler,
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY Bno. 1 (2009)
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ISSG-SiNgen ONO Stack for NROM Memory:Electrical and Chemical Characterization
Alexey Heiman, Michail Lisiansky,Yakov Roizin, G. Gartiez, E. Alon,A. Fenigstein,R. Edrei,A. Hoffman, R. Brenner,A. Gladkikh, M. Oksman, G. Xing,
ECS Meeting Abstractsno. 8 (2006): 383-383
引用0浏览0引用
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Nitrogen depth profiling in thin oxynitride layers on silicon
A. Budrevich,A. Gladkikh,E. Kaganer, M. Sokolovsky
SURFACE AND INTERFACE ANALYSISno. 4 (2006): 267-271
引用6浏览0引用
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Si(100)上に析出した無電解Ag(W)膜の初期成長段階の特性解析
Alexandra Inberg, L. Zhu, G. Hirschberg,A. Gladkikh,N. Croitoru, Yosi Shacham-Diamand,Eliezer Gileadi
Journal of The Electrochemical Societyno. 12 (2001): 784-789
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