he ya he lai(和雅 河瀬)关注立即认领分享关注立即认领分享基本信息浏览量:0职业迁徙个人简介暂无内容研究兴趣论文共 6 篇作者统计合作学者相似作者按年份排序按引用量排序主题筛选期刊级别筛选合作者筛选合作机构筛选时间引用量主题期刊级别合作者合作机构ITO/AlNiNdコンタクト形成メカニズムの解明(TFTの材料・デバイス技術・応用及び一般)和雅 河瀬,宗 本谷,純二 谷村,直樹 津村, 顕祐 長山,展昭 石賀,和式 井上siam international conference on data mining(2008)引用23浏览0引用230Dual-core-SiON技術を活用したhp65-SoC LOP向けOI-SiNゲート絶縁膜( IEDM(先端CMOSデバイス・プロセス技術))真平 辻川,浩司 梅田,岳 林, 和博 大西,克哉 志賀,和雅 河瀬,二郎 由上,秀文 吉村,昌弘 米田siam international conference on data mining(2007)引用23浏览0引用230SR光を用いたX線反射率測定によるSiO2膜解析 (特集 マイクロ・ナノテクノロジー適用例とその評価・解析技術)和雅 河瀬,康 上原,浩司 梅田mag(2004)引用23浏览0引用230ラジカル窒化酸化膜中NのXPS評価(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)和雅 河瀬,浩司 梅田,真雄 井上,真平 辻川,泰彦 赤松,章伸 寺本,忠弘 大見siam international conference on data mining(2004)引用23浏览0引用230HfSiO_x薄膜のXAFSによる局所構造解析(極薄ゲート絶縁膜・シリコン界面の評価技術・解析技術)康 上原,和雅 河瀬,淳一 土本,照夫 芝野siam international conference on data mining(2003)引用23浏览0引用230超LSIゲート絶縁膜の構造・欠陥解析技術 (特集 材料・分析技術の応用と展開) 博志 黒川,和雅 河瀬, 久美 寺田mag(1999)引用23浏览0引用230作者统计合作学者合作机构D-Core合作者学生导师暂无相似学者,你可以通过学者研究领域进行搜索筛选数据免责声明页面数据均来自互联网公开来源、合作出版商和通过AI技术自动分析结果,我们不对页面数据的有效性、准确性、正确性、可靠性、完整性和及时性做出任何承诺和保证。若有疑问,可以通过电子邮件方式联系我们:report@aminer.cn